Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.nplg.gov.ge/handle/1234/163013Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | ყურაშვილი, ია | - |
| dc.date.accessioned | 2016-06-28T07:13:13Z | - |
| dc.date.available | 2016-06-28T07:13:13Z | - |
| dc.date.issued | 2008-06 | - |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nplg.gov.ge/handle/1234/163013 | - |
| dc.description.tableofcontents | ცხრილების ნუსხა–– სურათების ნუსხა–– შესავალი–– 1. ლიტერატურული მიმოხილვა–– 1.1. დისლოკაციები ალმასის ტიპის სტრუქტურაში–– 1.2. მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების დისლოკაციური სტრუქტურა–– 1.3. მასიური Si-Ge შენადნობების რეალური სტრუქტურა–– 1.4. მასიური Si-Ge შენადნობების მექანიკური თვისებები–– 1.5. დენის მატარებლების ძვრადობა Si-Ge შენადნობებში–– 1.6. დისლოკაციური შინაგანი ხახუნის თავისებურებები ლეგირებულ სილიციუმში–– 2. შედეგები და მათი განსჯა–– 2.1. Si-Ge შენადნობების მიღება და კვლევის მეთოდები–– 2.1.1. ჩოხრალსკის მეთოდით კრისტალების მიღება–– 2.1.2. მიკროსტრუქტურის კვლევის მეთოდიკა–– 2.1.3. ელექტროფიზიკური მახასიათებლების გაზომვის მეთოდიკა–– 2.1.4. მიკროსისალის განსაზღვრის მეთოდი–– 2.1.5. შინაგანი ხახუნისა და ძვრის მოდულის გაზომვის მეთოდი––2.2. მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების სტრუქტურა და ფიზიკურ-მექანიკური თვისებები–– 2.2.1. მონოკრისტალური შენადნობების მიკროსტრუქტურა–– 2.2.2. Si-Ge მონოკრისტალური შენადნობების ელექტროფიზიკური თვისებები–– 2.2.3. მონოკრისტალური Si და Si-Ge შენადნობების მიკროსისალე–– 2.3. მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების არადრეკადი თვისებები–– 2.3.1. მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების შინაგანი ხახუნისა და ძვრის მოდულის ტემპერატურული სპექტრები–– 2.3.2. ბორით ლეგირებული მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების შინაგანი ხახუნისა და ძვრის მოდულის ტემპერატურული სპექტრები[125-128]–– 2.3.3. დარიშხანით ლეგირებული მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების შინაგანი ხახუნისა და ძვრის მოდულის ტემპერატურული სპექტრები[129-131] –– 2.3.4. მონოკრისტალურ Si-Ge შენადნობებში რელაქსაციური შინაგანი ხახუნის მექანიზმები–– 2.3.5. მონოკრისტალური Si-Ge შენადნობების შინაგანი ხახუნის და ძვრის მოდულის ამპლიტუდური დამოკიდებულება–– დასკვნა–– გამოქვეყნებული შრომების ნუსხა–– გამოყენებული ლიტერატურის ნუსხა | - |
| dc.format.extent | 133 გვ. | en_US |
| dc.language.iso | ka | en_US |
| dc.publisher | თბილისი : საქართველოს ტექნიკური უნივერსიტეტი | en_US |
| dc.source | მონოკრისტალური Si Ge (0<X< თვისებების ფიზიკურ-მექანიკური ხსნარების მყარი>/ია.ყურაშვილი : დის... / სტუ - თბ., 2008 - 133გვ. : სურ. - - ბიბლიოგრ.: გვ. 126-133(საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა, საარქივო ფონდი) | en_US |
| dc.subject | ქიმიური მრეწველობა | en_US |
| dc.subject | ქიმია | en_US |
| dc.subject | მონოკრისტალები | en_US |
| dc.title | მონოკრისტალური SiI-x Gex (0<x≤0.05) მყარი ხსნარების ფიზიკურ–მექანიკური თვისებების გამოკვლევა | en_US |
| dc.type | Thesis | en_US |
| dc.rights.holder | საქართველოს პარლამენტის ეროვნული ბიბლიოთეკა | en_US |
| Appears in Collections: | ეროვნული ბიბლიოთეკის დისერტაციებისა და ავტორეფერატების ფონდი | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Disertacia.pdf | 2.52 MB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.